干涉显微镜
中文名
干涉显微镜
英文名
interference microscope
名词解释
采用通过样品内和样品外的相干光束产生干涉的方法，把相位差(或光程差)转换为振幅（光强度）变化的显微镜，根据干涉图形可分辨出样品中的结构，并可测定样品中一定区域内的相位差或光程差。由于分开光束的方法不同，有不同类型的干涉显微镜，以及用于测定非均匀样品的积分显微镜干涉仪。干涉显微镜主要用于测定活的或未固定的相互分散的细胞或组织的厚度或折射率。
干涉显微镜分为双光束和多光束两类，采用通过样品内和样品外的相干光束产生干涉的方法，把相位差(或光程差)转换为振幅（光强度）变化的显微镜，根据干涉图形可分辨出样品中的结构，并可测定样品中一定区域内的相位差或光程差，通常测定工件加工光洁度及高度差约为1/10波长的显微组织可采用双光束干涉显微镜，林尼克干涉显微镜即属这一类。而多光束干涉显微镜能显示试样表面相邻两点为l/1 000波长的高度差，因此在金相组织的分析中有重要意义。
什么时候需要用到（干涉）相差显微镜呢？相差显微镜具有两个其他显微镜所不具有的功能：将直射的光(视野中背景光)与经物体衍射的光分开；将大约一半的波长从相位中除去，使之不能发生相互作用，从而引起强度的变化；因此可以应用于：观察未经染色的标本和活细胞和试样表面粗糙度的测定。
注：本名词内容引自百度百科
